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BS EN 933-3-2012 集料的几何性能试验.颗粒形状的测定.片状指数

时间:2024-05-28 15:01:34 来源: 标准资料网 作者:标准资料网 阅读:8753
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【英文标准名称】:Testsforgeometricalpropertiesofaggregates.Determinationofparticleshape.Flakinessindex
【原文标准名称】:集料的几何性能试验.颗粒形状的测定.片状指数
【标准号】:BSEN933-3-2012
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:2012-02-29
【实施或试行日期】:2012-02-29
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:IEC/TC55
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:Aggregates;Analysis;Characteristics;Construction;Constructionmaterials;Definitions;Designations;Determination;Dimensions;Geometric;Geometricalproperties;Grainshapes;Grainsize;Grainsizing;Grainstructures;Gravel;Materialstesting;Measurement;Measuringtechniques;Mineralaggregates;Naturalstones;Particlesizedistribution;Particlesizemeasurement;Particulatematerials;Properties;Ratings;Roadstoneaggregates;Rocks;Rubble;Screening;Shape;Stone;Testing
【摘要】:
【中国标准分类号】:Q13
【国际标准分类号】:91_100_15
【页数】:16P;A4
【正文语种】:英语


基本信息
标准名称:航天电子电气产品器件通孔安装技术要求
中标分类: 航空、航天 >> 航空、航天综合 >> 基础标准与通用方法
ICS分类: 航空器和航天器工程 >> 航空器与航天器综合
替代情况:QJ/Z 154-1985
发布日期:1998-02-06
实施日期:1998-10-01
首发日期:
作废日期:
出版日期:
页数:25页
适用范围

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所属分类: 航空 航天 航空 航天综合 基础标准与通用方法 航空器和航天器工程 航空器与航天器综合
基本信息
标准名称:3DD73型NPN硅外延平面低频大功率三极管
英文名称:Detail specification for silicon NPN epitaxial planar low-frequency high power transistors Type 3DD73
中标分类: 电子元器件与信息技术 >> 半导体分立器件 >> 半导体三极管
发布部门:中华人民共和国第四机械工业部
发布日期:1974-10-01
实施日期:1974-10-01
首发日期:
作废日期:2010-01-20
出版社:中国电子工业出版社
出版日期:1974-10-01
页数:6页
适用范围

本标准适用于耗散功率为200W的3DD73型型NPN硅外延平面低频率大功率三极管。该产品用于电子设备的低频功率放大、电源变换和低速开关的电路中。

前言

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引用标准

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所属分类: 电子元器件与信息技术 半导体分立器件 半导体三极管